經(jīng)常有客戶詢問(wèn)，絕緣脈沖測(cè)試儀的測(cè)試參數(shù)如何設(shè)置才更為合理。在本文中，小編為大家分享一下長(zhǎng)泩國(guó)際·深圳維泰克智能儀器有限公司的工程師是如何建議客戶設(shè)置更為合理的測(cè)試參數(shù)的。

首先，我們要明確在電池生產(chǎn)的不同階段（如卷繞/疊片、熱壓、封裝等），使用絕緣脈沖測(cè)試儀篩查NG電池時(shí)，使用的測(cè)試數(shù)據(jù)是不一樣的。在卷繞/疊片階段，正負(fù)極與隔離離膜之間的距離相對(duì)比較寬松，此階段設(shè)置的測(cè)試電壓可以略高一些，測(cè)試時(shí)長(zhǎng)時(shí)可略長(zhǎng)一點(diǎn)；而在熱壓后，電池正負(fù)極和隔離膜表面的高分子材料發(fā)生了變化，隔離膜變得更薄了，因此熱壓后的微短路測(cè)試，其測(cè)試參數(shù)可以設(shè)置得嚴(yán)苛一些。在電池的運(yùn)輸、封裝過(guò)程中也可能造成隔離膜缺陷導(dǎo)致電池發(fā)生微短路，因此，封裝后的電池短路測(cè)試依然不可放低標(biāo)準(zhǔn)。

無(wú)論是在電池生產(chǎn)的哪個(gè)階段，我們都建議客戶在不同的生產(chǎn)階段，用大量的驗(yàn)證來(lái)獲取數(shù)據(jù)，進(jìn)行對(duì)不同階段的短路測(cè)試進(jìn)行合理的參數(shù)設(shè)置，以下以卷繞/疊片階段的驗(yàn)證為例：

1. 準(zhǔn)備一批良品電池來(lái)進(jìn)行BDV模式（擊穿模式）測(cè)試，當(dāng)電池發(fā)生擊穿時(shí)，記錄電壓的數(shù)值。通過(guò)對(duì)這批良品電池擊穿測(cè)試的數(shù)據(jù)分析比對(duì)，找出擊穿良品電池的電壓分布范圍，比如600-1000V。

2. 準(zhǔn)備一批NG電池（建議用同一型號(hào)的針進(jìn)行刺穿），利用BDV模式測(cè)試獲得NG電池的擊穿測(cè)試的電壓值分布在哪個(gè)區(qū)間范圍內(nèi)。比如，通過(guò)對(duì)被刺穿隔離膜的電池的批量檢測(cè)，我們發(fā)現(xiàn)在300-700V的電壓內(nèi)，該批電池被報(bào)NG。

3. 此時(shí)，想檢出NG電池又能不損壞OK電池，我們就可以取300-600V的區(qū)間值作為測(cè)試電壓。在對(duì)儀器的測(cè)試參數(shù)進(jìn)行設(shè)置時(shí)，可將設(shè)定電壓設(shè)置為400/500/600V。然后分別準(zhǔn)備三組相同電池，使用不同電壓（400/500/600V）進(jìn)行短路測(cè)試，對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析后，得出表現(xiàn)最好的電壓參數(shù)即可作為最佳的測(cè)試設(shè)置參數(shù)。